超大测量范围近红外波前分析仪(1~2.35um)

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SID4-eSWIR

                                                                       高分辨率扩展的 SWIR 波前分析仪

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   SID4-eSWIR波前传感器将Phasics四波横向剪切干涉技术(专利授权公告号:CN 101384888 B;申请号:200780005898.X)与T2SL探测器集成在一起。 由于其高空间分辨率和高灵敏度,它可在1.0至2.35μm的扩展SWIR范围内提供精确的波前测量。

   SID4-eSWIR是一种创新的解决方案,用于测试军事和监视设备中用于光通信,检测仪器或夜视的SWIR光源和镜头。 它在一次拍摄中提供MTF和像差。


          

应用:自由空间光通信| 国防与安全| 航天


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